
Следвай
21
Сканиращ електронен микроскоп
738
14.02.2011
При сканиращия електронен микроскоп (СЕМ) обектът се сканира от електронен сноп. Отразените или избити електрони се улавят от детектор и след обработка на сигнала, се получава образ.
Виж повече
Виж по-малко